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聚焦離子束和掃描電子顯微鏡 – FIB-SEM
蔡司 Crossbeam 將場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒的強(qiáng)大成像和分析性能與新一代聚焦離子束(FIB)的優(yōu)異加工能力相結(jié)合。無(wú)論是切割、成像或進(jìn)行 3D 分析,Crossbeam 系列都能極大地提升您的應(yīng)用體驗(yàn)。使用 Gemini 電子光學(xué)系統(tǒng),您可以從掃描電子顯微鏡(SEM)圖像中獲取真實(shí)的樣品信息。Ion-sculptor FIB 鏡筒引入了全新的 FIB 加工方法,能夠減少樣品損傷,提升樣品質(zhì)量,從而加快實(shí)驗(yàn)進(jìn)程。
型號(hào):
Crossbeam 350 /550
發(fā)布時(shí)間:2025-08-23
FEI FIB雙束掃描電子顯微鏡Helios 5 DualBeam
用于 TEM 和 STEM 成像或原子探針斷層掃描的樣品制備。產(chǎn)品可實(shí)現(xiàn)先進(jìn)的自動(dòng)化操作,簡(jiǎn)單易用,并且能夠進(jìn)行高質(zhì)量的亞表面 3D 表征。
型號(hào):
Helios 5 DualBeam
發(fā)布時(shí)間:2022-12-04
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