<ruby id="psxk3"><del id="psxk3"></del></ruby>
<th id="psxk3"></th>
    • 

  • 

      2. 

      <del id="psxk3"><form id="psxk3"></form></del>
      3. 

      <b id="psxk3"><menuitem id="psxk3"></menuitem></b>
        4. 

        
  
        
   
        
        
        
      
        
   
        
     似空科學(xué)儀器（上海）有限公司歡迎您！
     聯(lián)系電話：18657401082  13917975482
   
        

        

        

        
  
        
    
        似空科學(xué)儀器（上海）有限公司
        
    
  
        
  
        

        





        


        
    
        
		 
        
         	
        
                
        新聞資訊
        
                
        當(dāng)前位置：主頁 > 新聞資訊 > 濱松微光顯微鏡原理是什么？
        
            
        
         
        
         
        
         	
        濱松微光顯微鏡原理是什么？
        
            
        時(shí)間：2024-10-25  點(diǎn)擊次數(shù)：3371
        
            
        
            	
        濱松微光顯微鏡（EMMI，又稱PEM，Photon Emission Microscope，光發(fā)射顯微鏡）的原理主要基于半導(dǎo)體器件在失效或缺陷狀態(tài)下會(huì)發(fā)出微量光子的現(xiàn)象。以下是對其原理的詳細(xì)解釋：
        


        一、工作原理
        


          
	
        1. 光子發(fā)射：當(dāng)對半導(dǎo)體樣品施加適當(dāng)電壓時(shí)，其失效點(diǎn)（如熱點(diǎn)、亮點(diǎn)）會(huì)因加速載流子散射或電子-空穴對的復(fù)合而釋放特定波長的光子。這些光子的波長范圍通常在350nm到1100nm之間，相當(dāng)于可見光和紅外光區(qū)。
          2. 
	
        2. 光子偵測：濱松微光顯微鏡配備有高靈敏度的制冷式電荷（光）耦合組件（C-CCD）偵測器，能夠偵測到這些由電子-空穴結(jié)合與熱載子所激發(fā)出的光子。
          3. 
	
        3. 圖像生成：經(jīng)過收集和圖像處理后，這些光子信號(hào)被轉(zhuǎn)換成一張信號(hào)圖。撤去對樣品施加的電壓后，再收集一張背景圖。將信號(hào)圖和背景圖疊加之后，就可以定位發(fā)光點(diǎn)的位置，從而實(shí)現(xiàn)對失效點(diǎn)的定位。
          4. 

        


        二、應(yīng)用與功能
        


        濱松微光顯微鏡不僅具有故障點(diǎn)定位、尋找亮點(diǎn)和熱點(diǎn)的功能，還廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域：
        


          
	
        1. 檢測芯片封裝打線和芯片內(nèi)部線路短路。
          2. 
	
        2. 晶體管和二極管的短路和漏電。
          3. 
	
        3. TFT LCD面板和PCB/PCBA的金屬線路缺陷和短路。
          4. 
	
        4. PCB/PCBA上的部分失效元器件。
          5. 
	
        5. 介電層（Oxide）漏電。
          6. 
	
        6. ESD閉鎖效應(yīng)。
          7. 
	
        7. 3D封裝（Stacked Die）失效點(diǎn)的深度預(yù)估。
          8. 

        


        此外，濱松微光顯微鏡還可以與光束誘導(dǎo)電阻變化（OBIRCH）功能集成在一個(gè)檢測系統(tǒng)中。OBIRCH技術(shù)利用激光束在恒定電壓下的器件表面進(jìn)行掃描，通過檢測金屬互聯(lián)線缺陷處溫度累計(jì)升高引起的電阻和電流變化，來定位缺陷位置。這種技術(shù)具有迅速、通用、潔凈、簡單和靈敏等優(yōu)點(diǎn)，能夠快速準(zhǔn)確地定位IC中元件的短路、布線和通孔互聯(lián)中的空洞等缺陷。
        


        綜上所述，濱松微光顯微鏡的原理是基于半導(dǎo)體器件在失效或缺陷狀態(tài)下發(fā)出的微量光子進(jìn)行偵測和定位。其應(yīng)用范圍廣泛，是半導(dǎo)體故障失效分析中的重要工具。
        

            
        
            
         
           
    
        

        


 
        
        
        
	      
        
    	    
        
              
        
                公司簡介
                
                新聞資訊
                
               
                技術(shù)文章
                 
                 聯(lián)系我們
                
              
        
            
        
         
            
        
        	  
              
            
          
          
        
        
        
        
        
            
        
                
        似空科學(xué)儀器（上海）有限公司
        
                
            
        
        
        
    
        
  
  

        
	
        
		
		
		
		
        
			
			
        
				
        
					
				
        
				
        
			
        
		
        
		
        
			
			
        
				
        
					
					
        
						
        聯(lián)系電話：
         18657401082   13917975482
        
					
        
				
        
				
        
			
        
		
        
	
        

        
	


        
	

        




        <ruby id="psxk3"><del id="psxk3"></del></ruby>
        <th id="psxk3"></th>
        2. 

      2. 

          2. 

          <del id="psxk3"><form id="psxk3"></form></del>
          3. 

          <b id="psxk3"><menuitem id="psxk3"></menuitem></b>
            4. 
亚洲第一视频网
|
谁有毛片网站
|
欧美体内射精
|
无码蜜桃|
欧美黄色片一级片免费大屌大屌
|